高低溫半導體介質絕緣性能檢測儀

產品型號：SIR-450

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-06-09

產品簡介：

華測儀器SIR-450高低溫半導體介質絕緣性能檢測儀

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

SIR-450高低溫半導體介質絕緣性能檢測儀由華測儀器生產，用于預測EMC的HTRB性能。電介質樣品暴露在高電場強度和高溫環境下，在這種情況下，高分子聚合物材料在高溫環境下具有負阻性的特征，電阻（率）隨著溫度的上升而下降，HTRB性能之間的相關性表明，隨著溫度的上升電阻率越下降嚴重，而HTRB性能越差，因此，材料的電阻率是HTRB失效測量的一個測量手段。

多種加溫方式

勻速度加熱試驗

階梯式加熱試驗

熱循環試驗（僅供反射爐）

降溫試驗

加速度升溫（僅供反射爐）

產品參數

溫度范圍：-100 ~ 350°C

控溫精度：0.5°C

升溫斜率：10℃/min（可設定）

電阻：1×10¹⁶Ω

電阻率：1×10³Ω ~ 1×10¹⁶Ω

輸入電壓：220 V

樣品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm

電極材料：黃銅

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

測試功能：高低溫電阻率

華測儀器的業務涵蓋從單臺測試設備供應到整體實驗室規劃建設的全過程。建設絕緣材料或功能材料電性能檢測實驗室，華測儀器可提供從方案設計到交付驗收的完整服務。