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產品型號:HCCT-40H
廠商性質:生產廠家
所在地:北京市
更新日期:2026-05-28
產品簡介:
| 品牌 | 華測 |
|---|
華測儀器HCCT-40H多通道電容器高低溫特性測試系統
價格僅供參考,如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例,歡迎致電我司技術工程師
HCCT-40H多通道電容器高低溫特性測試系統由華測儀器生產,系統通過準確控制溫度環境,并測量電容器在不同溫度下的關鍵參數(如電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)等參數值),從而評估其溫度特性。該系統穩定可靠,適用于包括多層陶瓷電容器(MLCC)、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。
產品優勢
1、至多64個通道的自動測量
可以測量不同溫度環境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z),可選8個通道的倍數,至多64個通道。
2、可從不同測試模式選擇
溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相合。
產品參數
測量項目:電容量 (C)、損耗系數 (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs,Rp) 和電感 (Ls,Lp)
測量方法:交流四端對測量
測量范圍:測量頻率20Hz~1MHz
電容量(C):50pF~5mF
損失因子(D):0.00001~9.99999
阻抗(Z):0.00001Ω~99.9999MΩ
直流偏壓:0~±40V
測量儀器:LCR表

京公網安備11011302007502號