多通道電容器高低溫特性測試系統

產品型號：HCCT-40H

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-05-28

產品簡介：

華測儀器HCCT-40H多通道電容器高低溫特性測試系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HCCT-40H多通道電容器高低溫特性測試系統由華測儀器生產，系統通過準確控制溫度環境，并測量電容器在不同溫度下的關鍵參數（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數值），從而評估其溫度特性。該系統穩定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。

產品優勢

1、至多64個通道的自動測量

可以測量不同溫度環境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選8個通道的倍數，至多64個通道。

2、可從不同測試模式選擇

溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相合。

產品參數

測量項目：電容量 (C)、損耗系數 (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)

測量方法：交流四端對測量

測量范圍：測量頻率20Hz~1MHz

電容量(C)：50pF~5mF

損失因子(D)：0.00001~9.99999

阻抗(Z)：0.00001Ω~99.9999MΩ

直流偏壓：0~±40V

測量儀器：LCR表