電介質溫頻特性綜合測試系統

產品型號：HCCT-40H

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-05-29

產品簡介：

華測儀器HCCT-40H電介質溫頻特性綜合測試系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HCCT-40H電介質溫頻特性綜合測試系統由華測儀器生產，是將環境試驗箱與評估系統相結合，效率采集數據的自動化多通道系統。儀器自動評估高溫和高溫/高濕環境下電容器的絕緣退化特性。該系統穩定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等多種類型的電容器。

產品優勢

至多64個通道的自動測量

可以測量不同溫度環境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)，可選擇8個通道的倍數，至多64個通道；

圖形功能允許實時查看測量結果

收集的數據，包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率，可以通過各種圖形函數進行實時審查；

可選不同測試模式

溫度特性評估測試：在此測試模式下，自動記錄特性數據，并與溫度變化同步，頻率步數201步（可定制）；

持續運行測試：測試模式測量以下參數的變化特定中隨時間推移的特征自動記錄數據；

頻率特性評價試驗：試驗模式在特定溫度環境下改變頻率的同時，自動記錄不同頻率下的特性數據；

多種可選夾具

除了SMD組件的專用夾具外，還提供了根據離散設備形狀定制的夾具；